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质量保证测试
光学滤波片视觉检查标准
作为薄膜光学滤波片方面的设计和制造专家，益瑞电采用严格的质量保证程序。我们全面的视觉检测程序就是其中之一，包括以下步骤。
关键区域
在可能有光通过的位置，我们检查明显的孔眼或者滤波片的中央部分。
边缘/角落(芯片)
我们检查在玻璃基底上的芯片和在滤波片镀膜上的芯片。如果芯片达到临界（明显的孔眼）面积，那么，上述任何一种芯片都不能通过视觉检查。
膜下划痕(Sleeks)、划痕和凹坑(Digs)
膜下划痕是在镀膜下方玻璃上的划痕。当在光亮下观察时，膜下划痕以明亮的白线出现。膜下划痕可长(跨越整个滤波片)可短，而且它们可能是直的或者具有各种不同的定位方向。
如果在关键区域，膜下划痕或者划痕的宽度大于8微米，那么含有膜下划痕或者划痕的滤波片就不能通过视觉检查。如果滤波片含有一个以上的膜下划痕或者划痕时，就要考虑关键区域内所有膜下划痕的总和。
缺陷
我们检查在其它分类中没有发现的缺陷，例如坑或者镀膜不足的区域。在关键区域含有缺陷的滤波片，如果该缺陷的宽度大于50微米，那么这块滤波片就不能通过目测检查。如果在关键区域含有一个以上缺陷的滤波片，那么所有关键区域中的缺陷之和必须小于50微米。这样才可以通过目测检查。
隆起
隆起是过剩的材料突出于滤波片的侧面。任何可见的隆起都会导致滤波片不能通过目测检查。
