光学滤波片外观检验标准

作为设计和制造的光学薄膜滤波片的专业生产商,益瑞电采用严格的质量保证流程。综合外观检验流程就是其中的一部分,它包括以下步骤:

关键区域

我们通过光束透射或反射的程度来检验通光孔径(通常是滤波片的中心区域)。

崩边/崩角(碎片)

在切割过程之后,我们在基片及滤波片膜上检查崩边和崩角。假如任何一种碎片延伸到滤波片的通光孔径,就不能通过综合外观检验。

光痕,划痕和次点

Sleeks是膜下方基片上的划痕。在强烈的照明下,sleeks呈现为一条明亮的白线。sleeks可长(贯穿整个滤波片)可短;可以是一条直线或又不同的取向的直线组合。

如果一个滤波片在其通光孔径区域内含有光痕或划痕,当它的宽度大于给定的划痕值,那么这片滤波片就不能通过综合外观检验。如果在通光孔径区域内含有多条光痕或划痕,所用参数将是所有光痕参数之和。

缺陷

我们还检验一些在其他种类检验中不能发现的缺陷,如凹坑或涂层不足。一个滤波片在其通光孔径区域内含有缺陷,如果它的范围大于给定的凹坑值,那么这片滤波片就不能通过综合外观检验。如果在通光孔径区域内含有多个缺陷,这些缺陷范围之和必须小于给定的凹坑值才能通过综合外观检验。

凸起

一个凸起部分是由于滤波片的一侧有多余的涂层引起的。任何含有明显的凸起的滤波片都不能通过综合外观检验。